Das neue 3D-Profilometer von Keyence (AMB, Halle 1, Stand 1Z334) wurde um mehrere Funktionen erweitert. Es verfügt im Vergleich zum Vorgängermodell zusätzlich über eine automatische Inspektionsfunktion, die eine einfache und benutzerunabhängige Prüfung von 3D-Formen in wenigen Sekunden erlaubt. Zudem können Profilschnitte und Oberflächen mit CAD-Daten verglichen werden.
Das 3D-Profilometer ist in die Modellreihe VR-3000 eingegliedert und arbeitet mit einer Technologie auf, mit der sich Unterschiede schnell, einfach und präzise visualisieren lassen. Die Oberflächenformen werden komplett in 3D erfasst und schwanken dabei nicht in Abhängigkeit vom Benutzer.
Zusätzlich zu dem neuen 3D-Profilometer ist Keyence auch mit dem Mikroskop VHX-5000 auf der AMB vertreten sein. Alle Komponenten dieses Mikroskops wie Kamera, Grafiksystem, Lichtquelle, Objektive, Stativ und Software sind von Keyence entwickelt und optimal aufeinander abgestimmt. Dies ermöglicht eine tiefenscharfe Betrachtung sowie präzise Analysen und Messungen in 2D und 3D. Selbst bei hohen Vergrößerungen. ■
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