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Alles in einem Rutsch

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Das neue Multifunktionstestsystem ATS-MFT 770 nähert sich laut Hersteller „der eierlegenden Wollmilchsau des Prüffelds“ Bild: Reinhardt
In Hochlohnländern Mitteleuropas ist es für die Produktion von elektronischen Flachbaugruppen wichtig, durch hohe Automatisierung hohe Qualität und minimalen Ausschuss zu produzieren. Viele Produkte dürfen nach der Fertigung nicht mehr instandgesetzt werden, selbst einfachste Nacharbeiten sind oft vom Auftraggeber untersagt.

Die Produktionskette für elektronische Flachbaugruppen beginnt mit der Produktion und Herstellung des Bareboards. Bereits hier greifen viele qualitätssteigernde Maßnahmen. In den nächsten Prozessen wie Pastendruck, Bestückung, Löten werden durch optische Überprüfung die Fehlerquellen auf ein Minimum reduziert. Eine automatische optische Inspektion (AOI) kann bereits einen geringen Teil der möglichen Fehler erkennen In vielen Branchen, vor allem bei sicherheitsrelevanten Baugruppen, ist indes ein Incircuit-Test mit anschließendem Funktionstest vorgeschrieben, nicht zuletzt wegen der Produkthaftung. Dafür steht mit dem ATS-MFT 770 die jüngste Testsystemgeneration von Reinhardt mit umfangreichen Funktionen zur Verfügung.

So lässt sich damit zum Beispiel im Funktionstest der elektronischen Baugruppe nicht nur die reine Funktion testen: Auch können damit Aufgaben wie das Flashen einer Firmware, der Abgleich der Baugruppe einschließlich Umgebungssimulation oder die Ermittlung von Stützpunkten, die dann in das jeweilige EEPROM geschrieben werden, wahrgenommen werden. Eventuell müssen auch optische Anzeigen wie Displays oder nur einfache LEDs ausgewertet werden. Alle Ergebnisse werden dokumentiert und können live zum Beispiel über die ODBC-Schnittstelle in ein MES-System einfließen.

Obwohl die Geschwindigkeit des Incircuit- und Funktionstestsystems stetig wächst, kann das Testsystem in der Produktionslinie zum Flaschenhals werden. In einer Produktionslinie mit hohen Stückzahlen von Baugruppen wird aus verschiedensten Gründen produziert und gleichzeitig getestet, weil für das Zuführen und die Kontaktierung der Flachbaugruppe viel Zeit vergehen, typischerweise 6 bis 8 s. Der RST 40 Synchrotest von Reinhardt ermöglicht es, einen parallelen Dreifach- oder Vierfachtest durchzuführen, genauso wie auch einen gemischten Test mit dem Incircuit-Test an einem und dem Funktionstest an einem zweiten Platz. Daneben erlaubt das Modul die Fernprogrammierung und Fernsteuerung.

Die Basisausstattung des ATS-MFT 770 beinhaltet ein umfangreiches Incircuit- und Funktionsmesssystem, das einen Kontaktierungstest, Kurzschluss- und Unterbrechungstest, Lötfehlertest sowie einen Bauteiltest beinhaltet. Für den Funktionstest sind neben denen eines Digitalmultimeters zusätzliche Möglichkeiten vorhanden wie das Messen von Spitzenspannung, Zeit und Frequenz und Laufzeiten zwischen zwei Kanälen aber auch Ereigniszählung. Auch die Möglichkeit einer Oszilloskopfunktion mit Hüllkurve zum Auswerten von komplizierten Signalverläufen steht zur Verfügung. Klirrfaktormessung und Fourieranalyse sind bereits integriert. Sechs programmierbare Gleichspannungsquellen sind von 0 bis ±38 V in 1mV-Schritten programmierbar bis max. 2 A mit 50 µA Auflösung. Diese Quellen können sowohl für die Versorgung als auch für die Signalstimulierung eingesetzt werden. Zur Basisausstattung gehören 192 Incircuit- und Funktionsmesskanäle (erweiterbar bis max. 4.320 Kanäle), so dass auch umfangreiche Mehrfachnutzen getestet werden können. Für die Integration in Produktionsstraßen stehen Parallelschnittstellen, Kommunikationsinterfaces und eine Smema-Schnittstelle zur Verfügung.

Zum Grundpaket gehören neben dem RUDC, einer CAD-Datenimportschnittstelle für das sehr schnelle und einfache Erstellen von Incircui-Test-Programmen, auch eine Software, mit der man aus den Gerberdaten der Platine einen Prüfadapter ebenso konstruieren wie den Fehlerort inklusive der Leiterbahnzüge grafisch darstellen kann. Die Software des Testsystems umfasst auch ein Tool zur Testgeschwindigkeitsoptimierung, das die Testschrittreihenfolge so sortiert, dass eine maximale Testgeschwindigkeit und eine möglichst geringe Hardware-Belastung erreicht wird. ■


Der Autor

Peter Reinhardt

Geschäftsführer

Reinhardt System- und

Messelectronic

www.reinhardt-testsystem.de



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