Aussteller-Trends auf der MATERIALICA 2002

Atomare Strukturen

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Innovativ präsentieren sich die Hersteller von hochauflösenden Untersuchungs- und Manipulationsmethoden auf der 5. MATERIALICA in München. Rastersondentechniken sind ein wichtiger Treiber für die Nanotechnologie. Vom 30. September bis 1. Oktober werden auf der Messe für Product Engineering die Trends rund um Rastern, Echtzeit-Röntgen und weitere Analyseverfahren wie Elektronenmikroskope und Infrarot gezeigt.

Mit ihrem vor mehr als 20 Jahren vorgestellten Rastertunnelmikroskop setzten die Nobelpreisträger Gerd Binning und Heinrich Rohrer einen Meilenstein. „Alle heutigen Rastersondentechniken haben in diesem Gerät ihren Ursprung,“ sagt Robert Metzger, Projektleiter MATERIALICA bei der Neuen Messe München. Mittlerweile gibt es weit über zwanzig verschiedene Rastersondentechniken. „Ohne sie wären die Fortschritte in der Nanotechnologie nicht denkbar.“

JEOL bietet Systeme zur mikroskopischen Abbildung von Oberflächen und inneren Strukturen bis in den atomaren Bereich und zur Analyse der chemischen Zusammensetzung im Mikro- und Nanobereich. Neben Rastersondenmikroskopen für atmosphärische und Ultra-Hochvakuumanwendungen auch hoch- und höchstauflösende Raster- und Transmissionselektronenmikroskope, Mikroanalysetechnik sowie Elektronenstrahl-Belichtungssysteme und Wafer-Inspektionssysteme für die Halbleiterindustrie, Kernspinresonanzanalysatoren und Massenspektrometer.
Rund um Werkstoffprüfung im Raster-Elektronenmikroskop und Atomic Force Mikroskop geht es bei Kammrath & Weiss. Für die Materialprüfung beispielsweise stellt das Unternehmen Module (Probentisch-Aufsätze) für die Elektronenmikroskopie mit Kräften vom Millinewton- bis 10000 Newton Bereich her.
Atomic Force F&E richtet sich mit zwei Geräte-Neuheiten an die Fachbesucher. Die Bewegungen der Abtastnadel (Stylus) des XP-2 Stylus Profilometers von Ambios Technology werden über einen Laserstrahl exakt in elektronische Impulse umgewandelt und von einem Regelkreis überwacht. Das neue MFP-3D AFM von Asylum Research zeichnet sich durch eine NPS Closed Loop Hardware Linearisierung in allen drei Achsen aus. Daraus resultieren korrekte Längen- und Höhenmessungen der Proben-Strukturen, eine Nachkalibrierung des Gerätes ist nicht erforderlich.
Ebenfalls neu: Das Rasterelektronenmikroskop S-3600N von Hitachi. Es wurde für Anwendungen geschaffen, bei denen Probengröße und Gewicht ebenso wichtig sind, wie die Präsentation des Bildes. Proben mit einem Durchmesser bis 254 mm und 70 mm Höhe können sowohl im Hochvakuum als auch im variablen Druck untersucht werden. Insgesamt ermöglichen zwölf freie Ports den Anbau weiterer Detektoren.
Von Röntec kommt das neue System Quantax, das EDX-Analysen am Rasterelektronenmikroskop (REM) durchführt. Die neue Detektorentechnologie erlaubt den Nachweis leichter Elemente am REM – auch ohne flüssige Stickstoffe. Quantax kann an die REMs beliebiger Hersteller montiert werden.
Die Automotive-Branche visiert Wälischmiller mit dem Radioskopie-Systemen an. Schon nach einer Umdrehung des Prüfobjektes stellt RayScan alle Volumeninformation bereit. Damit können Materialfehler in 3D sichtbar gemacht und beliebige Dimensionen im Inneren des Bauteils vermessen werden. RayView sind Anlagen zur Echtzeit-Röntgenprüfung und trennen einwandfreie Teile von fehlerhaften. RayCheck ist eine automatische Analysesoftware zur schnellen Auswertung von Röntgenbildern.
Zwei Highlights in den Mittelpunkt rückt Thermosensorik, deren breite Palette selbstentwickelter, hochauflösenden Infrarot-Kameras das gesamte Infrarot-Spektrum abdecken: Die Infrarot-Technologie TIM (Thermische Infrarot-Mikroskopie) kann in der Charakterisierung von neuen Materialien eingesetzt werden. Mit der Echtzeit Lock-in Infrarot Bildaufnahme ist es möglich, die Temperaturauflösung auf 10 µK zu steigern. Das Messverfahren wertet vollautomatisch in Echtzeit aus.
Für die umfassende Charakterisierung neuer Werkstoffe und Technologien bietet Netzsch eine große Produktrange zur Thermischen Analyse und zur Messung von thermophysikalischen Eigenschaften – für Forschung, Entwicklung und Qualitätskontrolle zwischen minus 260 und plus 2800°C. Das Netzsch Geräteprogramm umfasst zudem auch Instrumente und Methoden zur Messung von Wärmeleitfähigkeiten.
Setaram führt das neue SuperSonic System für TGA-MS-Messungen ein. Es bietet zahlreiche Features, beispielsweise hohe Auflösung und Sensitivität auch für schwerste Moleküle. Zudem stellt Setaram die neue Serie hochleistungstarker Thermal Analyzer Setsys Evolution vor. Die Geräte bieten eine Mess-Range von -150 bis 2400 Grad Celsius.
Forum für Auto-Zulieferer
Als Ausstellung und Forum für die zentraleuropäische Automotive Zulieferindustrie wird die ForCars in diesem Jahr eine Sonderschau im Rahmen der MATERIALICA präsentieren.
Die ForCars International Automotive Supplier Exhibition ist eine Ausstellung und Konferenz der Automobil-Zulieferindustrie der Länder Tschechien, Polen, Slowakei und Ungarn. Hauptziel der jährlichen Veranstaltung, die bislang zweimal im Münchner MOC stattfand, sind ein intensiverer Waren- und Wissensaustausch mit den klassischen europäischen Automotive-Industrien, die Förderung neuer Kooperationen sowie die Etablierung neuer Kommunikationsplattformen. Sowohl der breiten Öffentlichkeit als auch der Fachwelt adressiert werden. Fachbesucher aus Einkauf, Produktion und Entwicklung, vornehmlich aus Deutschland, Frankreich, Italien und Österreich sollen das Potenzial, die Kapazitäten und das Umfeld für etwaige Investitionen nahegebracht werden. Durch die jüngst zwischen der Messe München und ForCars beschlossene Integration der ForCars als Sonderschau in die MATERIALICA ergeben sich direkt wirksame Synergien: Beide adressieren die progressive und perspektivenreiche Automotive-Branche. ForCars fokussiert die Zulieferer dieser Industrie in den Bereichen Module, Systeme und Subsysteme, Teile und Werkzeuge, Konstruktion und Logistik. Bei der MATERIALICA 2002 zählt die Automobilindustrie mit 33 Prozent zu den stärksten Zielgruppen dieser europäischen „World of Product“.
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