Zur Schichdicken-, Farb- und Plasmamessung bietet das Jenaer Unternehmen Systeme an, die den unterschiedlichen Anforderungen in der Praxis gerecht werden. Die MCS-Systeme ermöglichen die Kontrolle von Schichten im Bereich von 50 nm bis 150 µm (optische Dicke). Sie bieten beim Einsatz im Laborbereich, für At-line- und On-line- Messungen eine besonders komfortable und schnelle Auswertung der Messspektren. Sie zeichnen sich durch hohe Messgeschwindigkeit und -genauigkeit sowie sehr gute Wellenlängenstabilität aus. Damit erhält der Anwender reproduzierbare Messergebnisse vor allem bei dünnsten Schichten. Die Messung erfolgt berührungslos und zerstörungsfrei. Die Systeme sind darüber hinaus kaskadierbar, zum Beispiel Farbmessung mit NIR spektrometrischen Messungen. Einsatz finden sie bereits unter anderem bei On-line-Messungen von Konversionsschichten (Chromat-Phosphat) auf Aluminiumoberflächen, bei der Online-Schichtdickenbestimmung von Aluminiumoxidschichten im Bereich von 50 nm bis 150 µm, bei schneller Schichtdickenbestimmung von Funktionsschichten während der CD- und DVD-Beschichtung oder bei Farbmessungen von Textilien.
A QE 408
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