Das Prüfsystem VPS 7054 vereint die klassische Auflicht-Inspektion mit der Mikrofokus-Röntgeninspektion und ist für die automatische Kontrolle von einseitig und doppelseitig bestückten Leiterplatten konzipiert.
Mit der Entwicklung eines Inspektionssystems mit kombinierter AOI/AXI Inspektion reagiert der Hersteller auf die große Nachfrage nach einer zuverlässigen Qualitätskontrolle von Bauelementen mit verdeckten Lötstellen. Insbesondere in der Elektronikindustrie kommen immer häufiger Leiterplatten mit versteckten Bauelementen und Lötstellen zum Einsatz, die der herkömmlichen optischen Inspektion entzogen sind.
Mit Hilfe der Kombination aus Röntgen- und Auflichtbildern können nun alle typischen Fehler bei SMD, BGA- und THT-Bauteilen in einem Inspektionsgang erkannt werden.
Das Sensorsystem besteht aus einer Röntgenröhre mit einem nur 5 p großen Brennfleck und erlaubt damit hohe Direktvergrößerungen bei exzellenter Bildauflösung und einer möglichen Bildfeldgröße von bis zu 8 x 11 mm. Zusätzliche SI-Auflicht-Module können zur Durchsatzsteigerung eingesetzt werden.
A QE 403
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