Olympus hat eine Reihe neuer Mikroskopsysteme vorgestellt, die für die Materialforschung und Metallurgie entwickelt wurden. Das modulare Design mit drei Basisstativen und einem umfangreichen Sortiment an Zubehör bietet bisher noch nie dagewesene Flexibilität bei der Systemkonfiguration.
Andrea Jensen, Olympus Optical, Hamburg
Durch Auswahl der Komponenten der BX2-Serie für die Materialforschung können kundenspezifische Systeme zusammengestellt werden, die optimal auf die mikroskopische Untersuchung von Halbleiter-Wafern, Magnetköpfen, LCDs und ähnlichen Objekten in den Bereichen Forschung, Herstellung, Entwicklung und Qualitätskontrolle abgestimmt sind. Das BX51M liefert in der Standardkonfiguration mit unendlich korrigierter UIS-Optik für Hellfeld, Dunkelfeld, DIC nach Nomarski und Polarisation außergewöhnlich scharfe Bilder. Der Auflichtkondensor ist für zusätzliche Flexibilität in den Mikroskoparm integriert. Er verfügt über eine regulierbare Aperturblende für höhere Schärfentiefe und einen eingebauten Graufilter. Durch Einsetzen eines Distanzstücks können auch Proben mikroskopiert werden, die höher als 65 mm sind. Außerdem steht ein Universal-Kondensor für Fluoreszenzmikroskopie zur Verfügung. Dasselbe Mikroskop und derselbe Kondensor können für die mikroskopische Untersuchung von Halbleiter-Innenlagen und der Rückseite von Chips im nahen Infrarotbereich verwendet werden. Eine Reihe von IR-Objektiven von 5x bis 100x bilden zusammen mit Filtern, Analysatorschiebern und einem binokularen Fototubus für Infrarotlicht ein komplettes NIR-System.
Ein Sortiment von leicht auswechselbaren, auf Schiebern montierten Prismensets für differentiellen Interferenzkontrast nach Nomarski ermöglicht die Optimierung dieses Kontrastverfahrens für das zu untersuchende Objekt. Für die Untersuchung unpräparierter Proben sind Objektive mit außergewöhnlich weiten Arbeitsabständen – 21 mm bei 20x, 15 mm bei 50x – erhältlich.
Die zentrierbaren Fünffach- und Sechsfach-Objektivrevolver ermöglichen dem Anwender den Wechsel von geringer zu starker Vergrößerung ohne Verschiebung der Bildmitte.
Eine automatisierte Version, das BX61, ermöglicht die Steuerung von vorprogrammierten Abläufen über ein Tastenfeld, einen PC oder ein Palm-Top-Terminal. Sowohl der Objektivrevolver als auch die Kondensoren, die Autofokuseinrichtung und die Filterräder können motorisch betrieben werden. Funktionen wie die Einstellung des Strahlengangs für ein bestimmtes Mikroskopieverfahren, der Wechsel der Objektivvergrößerung und das Einschwenken optischer Elemente lassen sich präzise als Makros programmieren, um spezifische Mikroskopiebedingungen reproduzieren zu können. Wie bei allen Mikroskopen von Olympus verfügt auch die neue Serie von Materialforschungsmikroskopen BX2M über ergonomische Konstruktionsmerkmale, einschließlich einer Reihe schwenkbarer und höhenverstellbarer Beobachtungstuben für bessere Körperhaltung sowie tief angebrachter Tisch- und Fokustriebe zur Entlastung der Arme und Handgelenke. Die Mikroskope sind mit einer Vielzahl von Olympus-Mikrofotografiesystemen kompatibel, beispielsweise der DP50 mit Peltier-Kühlung und einer hohen Auflösung von 5,8 Millionen Pixel, sowie den Steuersystemen PM10SP und PM30 für herkömmliche Fotografie mit Filmen.
Weitere Informationen A QE 417
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