Auf der weltgrößten Messe für Automobil-Zulieferer in Detroit vom 06.–09.03.2000 war das Software- und Systemhaus GfS mit neuen DIAdem-Weiterentwicklungen und der kompatiblen Hardware von National Instruments vertreten. 1400 Aussteller aus über 100 Ländern zeigten auf der SAE Show Neu- und Weiterentwicklungen von Automobilkomponenten und Produktionsverfahren. Organisiert wurde der GfS-Messestand von der in Detroit angesiedelten Tochterfirma.
Nachdem das 20. Jahrhundert durch das Automobil geprägt wurde, stand die SAE Show 2000 unter dem Motto “Lebensqualität durch Technik und erhöhte Mobilität”. Mehr als 50.000 Ingenieure informierten sich über die neuesten Entwicklungen im Automobilbau . Die Einsatzgebiete der GfS-Software DIAdem reichen von mobilen Messungen im Fahrzeug über die Realisierung von Prüfständen bis zur Auswertung beliebiger technischer Daten. Zur Analyse von Crash-Versuchen für die Fahrzeugsicherheit stehen auch US-amerikanische Auswertevorschriften zur Verfügung.
Die Anbindung von DIAdem an die Hard- und Software von National Instruments wurde am Beispiel von Klopffestigkeits-Untersuchungen demonstriert. Eine mit LabVIEW und DAQ-Hardware von NI realisierte Motorüberwachung speichert dabei die Messergebnisse direkt im DIAdem Binärformat. Die gesamte anschließende Auswertung der Daten erfolgt in automatisierten Abläufen ohne Zeit- und Datenverlust mit DIAdem.
– QE 326
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