Das neue, transportable Rasterelektronenmikroskop JEOL Compact-REM JCM-5700 Carryscope kann direkt zur Qualitätssicherung an der Produktionslinie eingesetzt werden. Das REM ermöglicht eine Auflösung von bis zu 5 nm und ist neben dem bewährten Sekundärelektronendetektor mit einem neuartigen Rückstreuelektronendetektor ausgestattet, der eine plastische Darstellung der Probe gewährleistet. Die hohe Leistung bei sehr geringen Spannungen (einzigartige 15nm Auflösung bei 1 kV) ermöglicht die Darstellung von Oberflächenkontamination und Verschmutzungen in bisher nicht gekannter Detailtreue. Ebenso können sehr empfindlichen Proben wie Polymere und organische Verbindungen zerstörungsfrei untersucht werden. Der optionale Niedervakuummodus erlaubt die direkte Untersuchung isolierender Proben: innerhalb weniger Minuten können auch unerfahrene Nutzer von einem Prüfteil ein hochauflösendes REM-Bild, eine Elementanalyse oder eine 3D-Rekonstruktion anfertigen. Das JEOL JCM-5700 Carryscope unterstützt den Anwender durch vorprogrammierte Rezepte und Automatikfunktionen und ist somit ein einzigartiges Werkzeug zur Messung immer kleiner werdender Toleranzen und Charakterisierung minimaler Defekte in der alltäglichen Qualitässicherung.
Jeol, Eching
Halle 6 Stand 6407
QE 542
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