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Mehr als zwei Elemente pro Sekunde analysiert

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Mehr als zwei Elemente pro Sekunde analysiert

Atomemission-Spektrometer ICP-OES
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Das schnelle simultane optische Atomemissions-Spektrometer mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-OES) basiert auf der nächsten Generation der CCD (chargecoupled device) Detektor Technologie. Es verwendet die patentierte VistaChip Detektor Technologie, um 73 Elemente in weniger als 35 s zu analysieren. Die Taktfrequenz der Auslese-Elektronik ist 80 mal schneller als bei bisherigen Systemen. Der gesamte Wellenlängenbereich auf durchgehenden Linien läßt sich von photoempfindlichen Detektoren messen, statt die Pixel nur in einzelnen Segmenten für ausgewählte Wellenlängenbereiche anordnen. Das erlaubt dem Anwender, Spuren- und Hauptbestandteile simultan auf alternativen Wellenlängen zu bestimmen.

Die Bilderfassungs-Technologie I-MAP ermöglicht es, 70 000 Pixel auf dem CCD in durchgehenden, gebogenen Linien anzuordnen, um exakt das zweidimensionale Abbild der thermostatisierten Echelle Optik zu erfassen. Der VistaChip Detektor deckt damit den gesamten Wellenlängenbereich von 167-785 nm ab. Interferenzen lassen sich somit leicht vermeiden.
A QE 603
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