Das optische Inspektionssystem ARGUS AOI arbeitet nach einem neuartigen Verfahren:
Die bestückte Leiterplatte wird von einer optischen Abtasteinheit vollflächig erfasst und von einem leistungsfähigen Auswertealgorithmus auf Bestückungsfehler untersucht. Durch die Erfassung und Auswertung in Farbe ist eine hohe Erkennungssicherheit, zum Beispiel bei fehlenden, versetzten, verpolten oder falsch bestückten Bauteilen gewährleistet. Die Pseudofehlerrate ist hingegen außerordentlich gering. Verwendbar ist das System für SMD-, Chip- und konventionelle Bauelemente. Eine OCR-Erkennung des Bauteilaufdrucks und eine Farbringauswertung erweitern die Möglichkeiten des Systems zusätzlich. Durch den neuartigen Aufbau des Inspektionssystems sind die Anschaffungs- und Betriebskosten deutlich geringer als bei den meisten herkömmlichen Systemen. Es ist in zwei unterschiedlichen Größen lieferbar. Platinengrößen bis zu 430 x 295 mm können in einem einzigen Arbeitsgang geprüft werden, größere Platinen gegebenenfalls in Abschnitten. Das lnspektionssystem gibt es sowohl als Einzelplatzlösung als auch als Bestandteil einer Fertigungslinie. Bei der Einzelplatzlösung wird der Prüfling in eine verstellbare Aufnahmevorrichtung eingelegt. Die Installation in einer Fertigungslinie erfordert keine Auftrennung des Transportbandes: Das Inspektionssystem wird über das Band hinweg installiert.
A QE 408
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