Das NanoR von L.O.T.-Oriel ist wohl das einzige AFM (Atomic Force Microscope), das gleichzeitig ein hochwertiges Messinstrument ist, exzellente Ergebnisse liefert, einfach zu bedienen ist und dabei auch noch äußerst preiswert ist. Das NanoR-AFM ist ein Top-AFM für Anwendungen wie zum Beispiel die Charakterisierung von Nanostrukturen oder die Analyse von Nanopulvern. Auch zur Metrologie im submikroskopischen Bereich eignet sich dieses Gerät und liefert Daten höchster Genauigkeit. Dank seines kompakten Designs sowie der patentierten internen, dauerhaften Kalibrierung ist das NanoR ideal für Routine-Messaufgaben geeignet. Die hardwareseitig implementierte Linearisierung ist der Schlüssel zu verschiedenen Metrologie-Anwendungen, zur Analyse von Nanostrukturen, für Aufgaben in der Metallurgie, zur Defekterkennung oder zur Charakterisierung von Nano-Pulvern oder Nano-Tubes.
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