Um die Konformität zur EU-Richtlinie RoHS bzw. zum deutschen Elektro- und Elektronikgerätegesetz ElektroG nachzuweisen, müssen die Hersteller von elektrischen und elektronischen Geräten, Leiterplatten, elektronischen Bauelementen sowie Gehäusen, Bauteilen und Kabelisolationen aus Kunststoffen die Werkstoffe wiederholt analysieren. Besondere Vorteile hat die Analyse nach dem Röntgenfluoreszenz-Verfahren. Diese Methode ist besonders wirtschaftlich, denn die Bauteile können ohne eine vorherige Probenvorbereitung in ihrem Originalzustand einem Screening unterzogen werden. Man vermeidet dadurch den hohen Aufwand für andere chemische oder physikalische Analyseverfahren. Angelernte Kräfte ohne spezielle Kenntnisse der Mess- und Analyseverfahren können damit Prüfteile erkennen und bewerten, die mit Sicherheit keine erhöhten Schadstoffgehalte aufweisen. Um dieses Analyseverfahren hinsichtlich der Nachweisgrenzen zu optimieren und dabei die Messzeiten zu minimieren, hat Helmut Fischer das Röntgenfluoreszenz-Gerät FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SD entwickelt. Es ergänzt die erfolgreichen Baureihen Röntgenspektrometer X-RAY XAN und XDAL. Durch zahlreiche Ausstattungsmerkmale und Eigenschaften ist dieses Röntgenfluoreszenz-Spektrometer speziell auf das rasche Analysieren unterschiedlicher Elektronik- und Kunststoffbauteile ausgelegt. Das stabile und steife Gussgehäuse ermöglicht problemlos genaue Messungen auf kleinsten Messstellen auch in einer rauen Werkstattumgebung. Der Halbleiter-Detektor besitzt eine Energieauflösung von 200 eV (FWHM). Das ermöglicht ihm, die Spektren von Elementen getrennt darzustellen, die im Periodensystem benachbart liegen. Daraus ergibt sich eine sehr zuverlässige Spektrenauswertung und eine hohe Nachweissicherheit. So liegt z.B. die mit dem FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SD erreichbare Nachweisgrenze für Blei bei 2 ppm, für Cadmium bei 10 ppm. Die durch RoHS geforderten Grenzwerte von 1000 ppm (Pb) bzw. 100 ppm (Cd) können damit sicher gegengeprüft werden. Durch wählbare Kollimatoren mit 0,1; 0,3; 1 und 2 mm Durchmesser lassen sich die Messflecke auf die zu messenden Flächen abstimmen. Zudem sorgen die großen Kollimatoren für hohe Strahlintensitäten und große Zählraten. Letztere wertet ein digitaler Pulsprozessor aus, der besonders für hohe Röntgenfluoreszenz-Intensitäten geeignet ist.
Helmut Fischer, Sindelfingen
CONTROL Halle 2/ 2413
QE 565
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