Schnellere Scangeschwindigkeiten, höhere Scanauflösung und bessere Durchsatzleistung: Dies sind nur drei der Vorteile des CRx Tower, des neuen CR-Scanners von GE Inspection Technologies. Der neue Scanner bietet alle anerkannten Vorteile der computergestützten Radiografie (CR) gegenüber der Filmradiografie – kürzere Belichtungszeiten, größerer Belichtungsspielraum, eine geringere Anzahl erforderlicher Wiederholungsaufnahmen sowie eine allgemeine Senkung der Material- und Lohnkosten – und ist das erste CR-System, das für bestimmte Formate eine Scanauflösung von bis zu 50 Mikrometern bzw. 20 Pixel/mm erreicht. Die Anwendungsmöglichkeiten im industriellen NDT-Bereich sind vielfältig und reichen von der Korrosionsüberwachung im Öl- und Gassektor bis hin zur Prüfung von Gussteilen in der Produktionsumgebung.
Der neue CRx Tower kann in Verbindung mit Röntgen- und Isotopenquellen genutzt werden und ermöglicht so die Durchführung zahlreicher Prüfaufgaben der konventionellen Durchstrahlungsprüfung, wie z. B. die Prüfung von Schweißverbindungen oder Betonstrukturen. Das Gerät eignet sich insbesondere zur Prüfung von Bauteilen mit verschiedenen Wanddicken und aus Verbundwerkstoffen, da durch entsprechende Voreinstellungen eine Simulation der Verwendung mehrerer Filme und damit die Erfassung verschiedener Wanddicken in einer Aufnahme möglich ist. Eine Überlagerung mehrerer Filme mit unterschiedlicher Empfindlichkeit, wie in der Filmradiografie, ist nicht mehr erforderlich.
GE Inspection Technologies Ltd, UK
QE 535
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