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Software vereinfacht Materialanalyse und Schichtdickenmessung mit Röntgenfluoreszenz

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Software vereinfacht Materialanalyse und Schichtdickenmessung mit Röntgenfluoreszenz

Software vereinfacht Materialanalyse und Schichtdickenmessung mit Röntgenfluoreszenz
Für Anwender von FISCHERSCOPE X-RAY Messgeräten gibt es eine neue Version des Mess- und Auswerteprogramms WinFTM V.6. Insbesondere für Anwender in der Qualitätskontrolle, im Wareneingang und in Analytik-Laboratorien bietet sie bessere Analysefunktionen und ein schnelleres Setup der Messungen. Vorteile der Software sind vor allem ihre große Funktionsvielfalt, die zuverlässigen Messergebnisse und die umfassenden Einsatzmöglichkeiten in allen Anwendungsfeldern der Materialanalyse und der Schichtdickenmessung. Zudem gibt es zahlreiche Möglichkeiten, Messungen zu programmieren und zu automatisieren.

Besonders vorteilhaft ist die automatische Elementerkennung in Spektren aus Proben unbekannter Zusammensetzung. Wesentlich schneller als bisher können die charakteristischen Peaks in den Fluoreszenzspektren den jeweiligen Elementen durch die neue Automatikfunktion „peak fit“ zugeordnet werden. Das ermöglicht, innerhalb kürzester Zeit und ohne manuelle Zuordnung gemessene Spektren aus Massiv-Proben unbekannter Zusammensetzung qualitativ zu analysieren. Die Software ordnet die Peaks in den Spektren bestmöglich den charakteristischen Elemente-Peaks zu. Sie erkennt so automatisch die enthaltenen Elemente. Speziell Anwender von Röntgenfluoreszenz-Spektrometern mit Halbleiterdetektor können diese Funktion vorteilhaft nutzen. Die Energieauflösung dieser Geräte ist ausreichend hoch, so dass die Peaks der enthaltenen Elemente in den Spektren getrennt sind und damit sehr gut zugeordnet werden können.
Helmut Fischer, Sindelfingen
QE 538
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