Die Fischerscope X-Ray Conti 5000 Geräte sind moderne, energiedispersive Röntgenfluoreszenz Spektrometer für die In-Line-Prozesskontrolle. Sie sind speziell für die kontinuierliche zerstörungsfreie Analyse von Legierungen und die Messung dünnster Schichten und Schichtsysteme konzipiert.
Die Serie ist für die Photovoltaik-Industrie geeignet, um die Dicke und Zusammensetzung von CIGS, CIS, CdTe zu bestimmen. Photoaktiven Schichten werden auf unterschiedlichen Grundwerkstoffen wie Glasplatten, Metall- oder Plastikfolien gemessen. Sowohl Röntgenröhre als auch Halbleiterdetektor können auf die jeweilige Anwendung abgestimmt werden.
Zur Integration in Fertigungsanlagen ist die Conti 5000 mit einem genormten Montageflansch ausgestattet. Verschiedene modular aufgebaute Varianten sind erhältlich. Mit einem zusätzlichen Kühlflansch sind auch Messungen auf sehr heißen Substraten mit bis zu 500 °C Oberflächentemperatur möglich.
Die Kalibrierung erfolgt einfach und schnell mit einem Werkstück-Master direkt im Fertigungsablauf. Die Notwendigkeit einer Nach-Kalibrierung ist drastisch reduziert.
Helmut Fischer, Sindelfingen
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