Soft Imaging System bietet mit dem analySIS-Modul spm eine spezielle Softwarelösung zur Auswertung von SPM-Bildern und Daten von z.B. STM-, AFM-, MFM- oder SNOM-Geräten an. spm ist an die Anforderungen der Nanotechnologie angepasst und bietet neben Import-, Analyse- und Berichterstellungswerkzeugen auch spezielle Filter- und (3D-)Darstellungsfunktionen.
Rastersondenverfahren finden Anwendung in nahezu allen naturwissenschaftlichen Disziplinen, etwa bei fundamentalen Oberflächenuntersuchungen in Industrie und Forschung, routinemäßigen Rauigkeitsmessungen oder Molekülmanipulationen in der Biologie – mit oft spektakulären 3D-Ansichten. Vorteile der Rastersondenverfahren gegenüber herkömmlichen mikroskopischen Verfahren liegen in der enormen Auflösung und der Möglichkeit, reale 3D-Bilder der Oberfläche aufzunehmen. Das analySIS-Modul spm bietet zur Verarbeitung der erzeugten Bilder und Spektren spezielle Verarbeitungsprozeduren an.
Durch die vollständige Integration von spm in die Bildanalyse-Software analySIS steht für weitergehende Aufgaben die gesamte Funktionalität von analySIS zur Verfügung. Durch Importfilter sind die SPM-Daten in X, Y und Z direkt richtig kalibriert und können sofort vermessen werden. Die SPM-Bilder lassen sich einfach und schnell als 3D-Oberfläche darstellen und in Echtzeit drehen und wenden. Clipping-Ebenen können eingeblendet werden, und die Beleuchtungsquelle ist frei positionierbar.
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