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System zur nanoskopischen Partikelanalyse

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System zur nanoskopischen Partikelanalyse

Carl Zeiss SMT präsentierte das neu entwickelte Partikeldetektions- und -analysesystem ParticleSCAN. Das hochautomatisierte Gerät wurde besonders für sich häufig wiederholende Analysen von Materialproben in Produktionsumgebungen entwickelt. Es wird in der Fertigungssteuerung zur Detektion und Überwachung feinster Partikel eingesetzt, wobei speziell deren Morphologie, also Größe und Form, als auch die chemische Zusammensetzung erfasst, aufgezeichnet und statistisch ausgewertet werden. Rationelle, automatisierte Prozesskontrolle, Verbesserung von Gutausbeute bis hin zu neuen Fertigungsmöglichkeiten werden durch das System unterstützt.

Daniel Sims, Produktmanager für das ParticleSCAN bei Carl Zeiss SMT in Cambridge (UK), erläutert: „Die SmartPI Software wird bereits sehr erfolgreich bei zahlreichen Anwendungen eingesetzt, beispielsweise zur Überwachung der Sauberkeit in der Präzisionsfertigung von Komponenten und Subsystemen für die Automobilindustrie. Das schlüsselfertige ParticleSCAN System ist äußerst robust, mobil und kann ohne größeren Aufwand vor Ort installiert werden. Auch ungeübte Anwender können dank des einfachen Benutzerinterface das System bedienen und Messungen durchführen.”
Erstmalig wurden automatisierte Partikelanalysesysteme von Carl Zeiss SMT zur Detektion von Verschleißpartikeln in Jet-Turbinen eingesetzt, um Wartungsintervalle zu optimieren und die Flugsicherheit zu gewähren. Die dabei gewonnen Erfahrungen sind in die Entwicklung der SmartPI Software eingeflossen, des Herzstücks des ParticleSCAN Systems. Die flexibel einsetzbare Software des ParticleSCAN ermöglicht eine große Bandbreite an Partikelanalysen – von pharmazeutischen Substanzen hin zu Einschlüssen in Metalllegierungen. Die elektronenoptische Säule und ausgereifte Detektormodule, die der bewährten EVO Rasterelektronenmikroskop-Serie von Carl Zeiss SMT entstammen, bilden die Basis des ParticleSCAN. In Kombination mit dem optionalen Röntgen-Analysesystem EDS können Partikelproben vermessen, analysiert und deren Daten (chemische Zusammensetzung, Partikelform und -größe) gespeichert werden.
Carl Zeiss SMT, Oberkochen
QE 537
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