Die chromatisch konfokalen Sensoren erlauben eine schnelle Charakterisierung von Oberflächen und die Bestimmung der Mikro/Nanotopographie, optische Rauheitsbestimmungen sowie die Dickenmessung von transparenten Proben. Da die Messköpfe keine bewegten Teile enthalten, sind sie robust und wartungsfrei. Durch die neuen Punktsensoren können Anwendungen im Bereich der Elektronik und Mikroelektronik, Halbleiter, Automotive und Mikromechanik sowie der Optik-Industrie applikationsspezifisch von Polytec bedient werden. Die TopSens Sensoren erfüllen die neue ISO 25178-Norm und können Rauheiten bis zu wenigen Nanometern messen. Mit ihrer hohen Messrate und einem durchdachten Schnittstellenkonzept lassen sich die optischen Sensoren einfach in den Fertigungsprozess oder eine vorhandene Prüfstation einbinden. In Kombination mit 3D-Scannern ermöglichen die Punktsensoren mikro-topografische 2D- und 3D-Messungen an komplexen Strukturen mit Submikron-Genauigkeit. www.topmap.de
Polytec, Waldbronn, www.polytec.de
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