Automatische optische Inspektion (AOI) Unterstützung durch künstliche Intelligenz - Quality Engineering

Automatische optische Inspektion (AOI)

Unterstützung durch künstliche Intelligenz

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Das 3D-AOI-System Zenith 2 und das High-Speed-System Zenith UHS waren zwei Highlights von Koh Young auf der Electronica in München.

Diese Systeme inspizieren zuverlässig alle Objekte auf den Oberflächen von Boards voll zu 100 % und unterstützen zudem eine einfache und rasche Programmierung auf KI-Basis. Damit wird die Vorbereitung der Inspektionsprozesse bis circa 70 % reduziert. Die KI-Software übernimmt automatisch die Registrierung der Bauteile sowie die Einstellungen der Inspektionskonditionen. Somit kann auf der Basis von exakten 3D-Messwerten und der intelligenten Analyse dieser Daten die zuverlässige und rasche Programmierung sichergestellt werden.

Hinzu kommt, dass die neue Zenith 2 auch eine erweiterte Fehler-Erkennung über eine große Breite von verschiedenen Komponenten offeriert. Das sind beispielsweise Leadless-Chips, Steckverbinder, J-Leaded Small-Outline-ICs (SOJs) und auch teilweise abgeschirmte Bauteile. Dabei setzt der Anwender zur Unterstützung die Funktion für die seitliche Inspektionsansicht der Prüfobjekte ein. Das 13.000ste Inspektionsautomaten Zenith 2 ging an Wenglor Sensoric in Tettnang.

Daneben stellte Koh Young auf der Electronica das neu entwickelte 3D-Premium-Lotpasteninspektionssystem (Solder Inspection System, SPI) vor. Das Modell Aspire3 vereint mehrere Prüfmethoden. Dazu gehört die Multi-Projektions-Moirétechnik mit gleichzeitig voller Verfügbarkeit eines 3D-Inspektionsprozesses und seiner genauen Datenbasis. Damit werden exakte Inspektionsergebnisse sichergestellt, die auch in Echtzeit mögliche Verdrehungen und Verbiegungen der Leiterplatte erkennen und kompensieren. Das Asprire3-System bietet eine sehr hohe Inspektionsgenauigkeit, definiert bei der 01005-Komponentenbauform mit Gauge R&R 10 % (@ 6-Sigma). Außerdem ist das neue System um den Faktor 2 schneller als das Vorgängermodell. Mit Blick auf weitere Automatisierungskonzepte entsprechend Industrie 4.0 können Anwender über die Schnittstelle Link@Ksmart eine eindeutige Korrelation zwischen der Qualität des Pastendrucks, definiert auf Bauelement-Ebene, mit dem nachfolgenden Lötprozess herstellen. Dazu lassen sich die Daten der SPI- und AOI-Systeme komplikationslos vergleichen und verifizieren.

Auch das Pin-Inspektionssystem KY-P3 hat Koh Young auf der Electronica präsentiert. Mit diesem System lassen sich alle Arten von Pins, die auf Leiterplatten beziehungsweise in der Elektronikfertigung eingesetzt werden, exakt kontrollieren, beispielsweise Pin-Arrays, Gabelkopf-Ausführungen (Fork), Press-Fit-Versionen und viele weitere Bauformen mehr. Mit der exakten und zuverlässigen Inspektion der Pins durch das System KY-P3 wird die Rate der Pseudofehler (False Calls) signifikant reduziert und gleichzeitig der Fehlerschlupf praktisch eliminiert. Mit der Funktion Auto Programming, die auf einer neu entwickelten KI-Softwareengine basiert, lassen sich sehr schnell die Bedingungen für die Inspektionen und Messungen definieren sowie modifizieren.

www.kohyoung.com

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