Im Rahmen der Productronica 2005 stellt phoenix|x-ray als Weltpremiere das neue hochauflösende Röntgeninspektionssystem microme|x vor. Erstmalig sind in einem System sämtliche Austattungsmerkmale für eine optimal umfassende Baugruppeninspektion vereint. So verfügt der microme|x über eine extragroße Durchlichtfläche von 20″ x 24″, eine hochpräsize Manipulationseinheit mit 360° Rotationsachse und das bewährte ovhm-Modul für Schrägdurchstrahlung bis 70° bei gleich bleibender Vergrößerung. Der besondere Kundennutzen liegt in der Kombination dieser Merkmale – somit kann der Benutzer auch bei einem großen Nutzen mit gemischter Bestückung beispielsweise um eine BGA-Lötstelle unter einem beliebigen, stufenlos einstellbaren Winkel rundherum fahren, um die Padanbindung im Echtzeit-Röntgenbild zu untersuchen. Eine weitere herausragende Eigenschaft des microme|x ist seine Vorbereitung zum Anschluss eines Boardhandlers zum automatischen Be- und Entladen der Prüflinge in der Produktion. In Verbindung mit der neuen Prüfsoftware XE² ist somit eine vollautomatische Untersuchung und Beurteilung von BGAs, CGAs, QFPs, THTs und anderen Bauteilen möglich.
phoenix|x-ray, Wunstorf
QE 540
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