Das easyScan-AFM ist ein Rasterkraftmikroskop zur quantitativen Darstellung der Oberflächentopographie beliebiger Werkstoffe im µm- bis nm-Maßstab. Die zerstörungsfreie Messmethode wird unter anderem zur Prüfung von Hochglanzpolituren, sowie von keramischen Oberflächen und optischen Schichten eingesetzt. Das AFM ist einem Profilometer überlegen, wenn sehr geringe Rauhigkeiten (Ra 0.1 µm), z.B. Initialstadien von Verschleißerscheinungen untersucht werden sollen. Aufgrund der geringen Auflagekraft ist das Verfahren schonend für die Oberfläche. Der abrasive Einfluß eines Profilometers auf glatteren
Proben kann in AFM-Bildern sichtbar gemacht werden. Im Vergleich zu anderen erhältlichen Rasterkraftmikroskopen unterscheidet sich das easyScan-AFM deutlich durch seine kompakte Bauform und Mobilität und seinen günstigen Preis. Die Handhabung ist einfach und erfordert keinen Spezialisten.
A QE 422
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