Keithley Instruments stellt eine interaktive CD für Halbleitertestingenieure zum Thema Zuverlässigkeitstest vor. Die CD mit dem Titel „Understanding Measurements: Essential Reliability Testing Techniques“ beinhaltet Informationen über den Stresstest von Halbleiterbauteilen, neue Messverfahren, Erhöhung des Testdurchsatzes und Gewährleistung der Datenintegrität. Die CD ist kostenlos erhältlich.
Unter anderem enthält die CD auch drei Online-Seminare, die unterschiedliche Testaspekte ausführlich behandeln:
- Grundlagen des Zuverlässigkeitstests von Halbleiterbauteilen
- Neue Messverfahren zur Verbesserung der Zuverlässigkeit von Halbleiterbauteilen
- Wie lassen sich Durchsatz und Datenintegrität verbessern – Zuverlässigkeitsaspekte und Testherausforderungen bei immer dünneren Gateoxid-Schichten
Weiter findet sich auf der CD folgendes Material:
- Informative White Papers, technische Hintergundartikel, zu Materialtest und Test der Elektromigration.
- Produktapplikationsberichte, die Methoden zur Durchführung unterschiedlicher Tests für Halbleiterbauteile beschreiben.
- Nützliche Ressourcen, wie ein Glossar, eine Unterstützung zur Auswahl der besten Halbleiterzuverlässigkeitstools für Ihre Testanwendungen, sowie themenspezifische Internet-Links.
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