Die CT-Systeme FF20 CT und FF35 von Yxlon ermöglichen eine Detailerkennbarkeit von ≤150 nm. Möglich wird dies durch eine 190-kV-Nanofokusröhre sowie neue Features und Algorithmen. Die Bildgenauigkeit bleibt auch bei hohen Energien erhalten.
Genaue Ergebnisse bei Prüf- und Metrologieaufgaben lassen sich mit den Computertomografie-(CT-)Systemen von Yxlon (Halle 3, Stand 3310) nun noch einfacher ermitteln: Eine Detailerkennbarkeit von ≤150 nm bei 2D-Anwendungen – auch bei hohen Energien – erreicht der Hersteller bei seinen CT-Systemen FF20 CT und FF35 CT durch die wassergekühlte 190-kV-Nanofokusröhre. Darüber hinaus bieten neue Algorithmen eine optimale Bildauflösung bei größerem Messkreis.
Das neue Scan-Extend-Feature bietet eine horizontale Messkreiserweiterung und eignet sich für größere Prüfteile oder eine stärkere Vergrößerung kleinerer Prüfteile. Dabei wird der Scan in einer vollständigen Rotation des Prüfteils durchgeführt und artefaktfrei rekonstruiert. Dies führt zu einer realen Zeitersparnis im Vergleich zu gängigen Algorithmen, die das sogenannte Stitching einsetzen. Zudem erhöhen die virtuelle Rotationsachse und das Heli-Extend-Feature (Helix-CT) die Applikationsbreite, die Qualität der Prüfungen und die Zeiteffizienz für den Anwender, was beispielsweise besonders bei kleinen, vertikal ausgedehnten Teilen wie etwa 3D-gedruckten Düsen zum Tragen kommt. So liefern die Systeme beste Prüfergebnisse in der zerstörungsfreien Materialprüfung und erfüllen die Voraussetzungen für anspruchsvolle Metrologie-Anwendungen.
Mit den FF20/35-CT-Systemen und der Systemplattform Geminy hat der Hersteller neue Features integriert: eine intuitive Smart-Touch-Bedienung, Remote Monitoring, Push Messages und unterschiedliche Nutzerprofile ermöglichen die Bedienung ohne Vorkenntnisse. Der große Prüfraum in Verbindung mit den Röhren- und Detektorkonfektionierungen sorgen für eine große Applikationsbandbreite und hohe Flexibilität. ■
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