Dadurch, dass alle Beleuchtungsoptionen in einem einzigen Bild gespeichert werden, kann die Beleuchtung selbst im Nachhinein angepasst werden. Eine Neuaufnahme des Objekts ist nun nicht mehr nötig. Das Mikroskop ermöglicht zahlreiche Messungen für 2D- und 3D-Aufnahmen und detaillierte Analysen bis in den Submikrometerbereich.
Zudem präsentiert der Hersteller sein 3D-Profilometer der Modellreihe VR-3000. Dabei handelt es sich um ein sehr schnelles, hochpräzises Profilmesssystem zur kontaktlosen Oberflächenanalyse von großen Bereichen (200 x 100 mm). Damit können benutzerunabhängige Form-, Ebenheits- und Rauheitsmessungen in 3D innerhalb weniger Sekunden durchgeführt werden. Zusätzlich können die Unterschiede zwischen den einzelnen Messobjekten dargestellt sowie Analysen durchgeführt werden. Bauteile, die größer als 300 x 200 mm sind oder im dreidimensionalen Raum geprüft werden müssen, können mit dem 3D-Koordinatenmessgerät geprüft werden. Die Modellreihe XM überzeugt mit einer intuitiven Bedienoberfläche, einer einfachen Handhabung und einer flexiblen Einsatzweise in Produktion oder Messraum. Der frei bewegbare Messtaster erlaubt komplexe Messungen. Durch die geführte Messung können auch ungelernte Arbeitskräfte 3D-Messungen durchführen.
Keyence, Halle 8, Stand 8202
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