Fünf Mitglieder aus der Test and Measurement Group von Illinois Tool Works (ITW) präsentieren auf der Control ihr Produktportfolio und Neuentwicklungen bei statischen und dynamischen Prüfsystemen für Zug, Druck und Torsion (Instron), bei zerstörungsfrei arbeitenden Systemen für die Röntgenprüfung und die Computertomographie (North Star Imaging, NSI), bei Geräten für die Oberflächenrissprüfung (ITW Tiede), bei Maschinen für die Härteprüfung (Wilson Hardness) und bei Systemen für die Probenpräparation (Buehler).
Als Ergänzung seines Programms an Anlagen für mittlere bis große Prüflinge stellt NSI das neu entwickelte X-View CT-System X25 vor. Dieses Gerät beansprucht wenig Laborfläche und eignet sich mit einer Auflösung von unter 1 µm speziell für die Untersuchung kleiner Teile, beispielsweise in der Forschung oder zur Qualitätssicherung in der Elektronik und der Medizintechnik.
ITW, Pfungstadt, www.itw.com
Halle 1 Stand 1522
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