Um Fehler in der Produktion frühzeitig zu erkennen, können Anwender mit dem optischen Messsystem Topmap TMS-500 von Polytec neben der dreidimensionalen Oberflächencharakterisierung auch Ebenheits- und Parallelitätstoleranzen überprüfen. Das großflächig messende Gerät ermöglicht es, Proben unterschiedlichster Reflektivität bis zu einem Durchmesser von 46 mm in einer Einzelmessung zu vermessen. Die hohe laterale Auflösung von rund 26 µm stellt sicher, dass keine wichtigen Details übersehen werden.
Der große vertikale Messbereich von 70 mm in Kombination mit der Weißlichtinterferometrie ermöglicht es, tiefliegende Flächen und große Stufenhöhen mit hoher Wiederholpräzision und rückführbar zu charakterisieren. Die einfach zu bedienende mitgelieferte Mess- und Auswertesoftware wertet beispielsweise Stufenhöhen sowohl entlang eines Profilschnitts nach DIN ISO 5436-1 als auch flächig aus. Dank der kundenspezifisch anpassbaren Softwareoberfläche führt das Gerät Routinemessungen schnell und automatisiert durch. Das integrierbare System ermöglicht auf den Anwender zugeschnittene Messlösungen.
Polytec Halle 1, Stand 1813
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