Der neue Mikrospotanalysator SEA6000VX ermöglicht die Messung von Metallspuren und gefährlichen Elementen, ohne das Produkt zu zerstören, sowie die Bestimmung von Schichtdicken metallischer Überzüge in einem Gerät. Er verfügt über eine Heliumspülung zur Messung der Röntgenfluoreszenzstrahlung leichter Elemente von Na an, ist mit einem elektrisch gekühlten Halbleiter-Detektor für hohen Zählratendurchsatz und einem Dual-Kamera-System ausgestattet. Bisher mussten Analysen an zerlegten Proben durchgeführt werden, um eine Aussage über die Konzentration der regulierten Elemente in der Probe machen zu können. Mit der verbesserten Empfindlichkeit des Mikrospotanalysators können Messungen auf kleineren Flächen bei kürzerer Messzeit and assemblierten Proben durchgeführt werden.
Ein präziser, programmierbarer X-Y-Probentisch ermöglicht ein Hochgeschwindigkeitsmapping mit hoher Ortsauflösung. Damit können Verteilungsbilder aller gesuchten Elemente in kurzer Zeit (typisch 30 min) erstellt werden. Kontaminierte Bereiche der Probe (bleihaltiges Lot an einer Reparaturstelle) können schnell und einfach identifiziert werden, da neben den Elementverteilungsbildern ein optisches Bild der gesamten Probe zur Verfügung steht. Durch Überlappung der Elementverteilungsbilder mit dem optischen Bild der Probe ist eine schnelle und eindeutige Lokalisierung der kontaminierten Stelle möglich.
Seiko, Neu-Isenburg, www.seiko-instruments.de
Halle 1 Stand 1836
Mehr zum Thema Messe Control
Teilen:
