Leica Microsystems hat ein inverses Mikroskop für industrielle Anwendungen entwickelt. Die DMI8 Plattform ist flexibel, ausbaufähig und beschleunigt Arbeitsabläufe.
Mit seinem DMI8 führt Leica ein modulares inverses Mikroskop für Anwendungen in der Industrie ein. Inverse Mikroskope werden in der Metallographie, für die Qualitätssicherung in der Produktion von medizinischen Geräten und Mikroelektronik, in der Materialwissenschaft sowie für Inspektionsaufgaben in der Automobil- und Luftfahrtindustrie eingesetzt. Damit können Anwender ein Basissystem für ihre aktuellen mikroskopischen Anwendungen konfigurieren und das Gerät jederzeit aufrüsten, wenn sich die Anforderungen ändern.
Für industrielle Anwendungen werden zunehmend inverse Mikroskope eingesetzt, da sie Workflows effizienter machen: Proben lassen sich leichter und schneller positionieren und wechseln als bei aufrechten Mikroskopen, und es werden weniger Schritte für die Vorbereitung und Bildakquise der Probe benötigt.
Inverse Mikroskope sind auch für die Abbildung großer und schwerer Proben besser geeignet. Zudem werden mit der Software Leica Application Suite (LAS) erfahrene wie unerfahrene Anwender Schritt für Schritt durch die Analyse geführt, was die Einarbeitungszeit verkürzt. Durch die Modularität und die hohe optische Qualität können Anwender ihre Proben präzise und genau analysieren und haben gleichzeitig alle Optionen für die Aufrüstung des Geräts offen. Dadurch werden letztlich Arbeitsabläufe beschleunigt.
Objekttisch ist für Proben bis 30 kg ausgelegt
Da die Mikroskopoptik unter dem Objekttisch untergebracht wird, können große Proben untersucht werden. Der für ein Probengewicht bis 30 kg ausgelegte Objekttisch trägt Proben beliebiger Höhe. Für eine einmal auf dem Objekttisch fokussierte Probe bleibt der Fokus durch alle unterschiedlichen Vergrößerungen hindurch erhalten – auch während der Abbildung gleichartiger Proben.
Das exklusiv vom Hersteller angebotene Makroobjektiv bietet ein Objektfeld von 35 mm. Das ist das Vierfache des Objektfeldes eines Standardobjektivs. Für eine noch detailliertere Betrachtung der Probenoberfläche bei hohem Kontrast bietet der Hersteller die Ultra-Contrast-3D-Beleuchtung an.
Das Schneiden und Einbetten entfällt
Dass die Probenpräparation mit weniger Zeitaufwand verbunden ist, liegt daran, dass das Schneiden und Einbetten entfällt. Zudem muss die Probe nur auf einer Seite bearbeitet werden. Die daraus entstehende Zeitersparnis führt zu einer Erhöhung des Probendurchsatzes und zu effizienterem Arbeiten. Das Mikroskop reduziert auch das Risiko, dass das Objektiv mit der Probe kollidiert. Die Probe ist durch die Lage der Objektive unterhalb des Objekttisches sowie durch eine obere Begrenzung des Objektivrevolvers geschützt.
Leica Microsystems Halle 1, Stand 1712
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