Als Ergänzung der opto-digitalen Mikroskopsysteme von Olympus wird auf der Control das neue 3D-Laser-Scanning Mikroskop LEXT OLS4100 vorgestellt. Durch die Kombination aus optischer Präzision und der intuitiven Bedienbarkeit einer digitalen Benutzeroberfläche soll es über einen schnellen und einfachen Zugang zu optischer Metrologie verfügen. Das neue Modell baut auf die Erfahrung des Vorgängers LEXT OLS4000 auf und bietet gegenüber den herkömmlichen stiftbasierten Kontaktverfahren für die Oberflächeninspektion einige wesentliche Vorteile, die höhere Effizienz und Genauigkeit bewirken und gleichzeitig die Beschädigung der Probe vermeiden sollen, so der Hersteller.
Die Navigation auf der Probe soll auch bei starker Vergrößerung unkompliziert sein, da stets eine mit geringer Vergrößerung erfasste Weitfeld-Übersichtsdarstellung der Probe angezeigt wird. Darüber hinaus wurde das Sehfeld durch Aktualisierung der Stitching-Funktionen erweitert. Aus zahlreichen Einzelaufnahmen wird nahtlos ein einzelnes Bild konstruiert, das anschließend in 2D oder 3D angezeigt und vermessen werden kann. Bildaufnahmen sind mit dem Mikroskop schneller möglich. Dafür steht eine Reihe von Scanning-Modi zur Verfügung. Durch automatische Einstellung der Position entlang der Z-Achse soll die Bildaufnahme im Smart-Scan-Modus auf die Fokusebene beschränkt werden, wodurch schnelles 3D-Scannen in hoher Auflösung über weite Bereiche hinweg möglich sein soll.
Olympus, www.olympus-ims.com Halle 1, Stand 1512
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