Das lichtstarke, hochauflösende Objektiv Inspec.x HR 2.4/128 3.33x des Excelitas-Tochterunternehmens Qioptiq ist optimiert für Aufnahmen im sichtbaren Spektrum (VIS) mit bis zu 82 mm langen 16k-Zeilensensoren mit 3,5 oder 5 µm Pixelgröße. Es erreicht eine hohe Auflösung bis 300 Linienpaaren je mm im Objekt. Es wurde für schnelle industrielle Inspektionsaufgaben entwickelt, zum Beispiel für die Qualitätskontrolle bei der Fertigung von Flachbildschirmen, Wafern, OLEDs, PCBs und Glas.
Als weitere Neuheit zeigt der Hersteller Objektive für die Mikroinspektion im kurzwelligen Infrarot (SWIR). Exponate demonstrieren die extrem hohen Auflösungen dieser Objektive sowie die Fähigkeit, mit SWIR zum Beispiel durch Silizium zu blicken, was neue Prüfanwendungen in der Halbleiterindustrie eröffnet. Sowohl die VIS- als auch die SWIR-Objektive sind als Standardprodukte mit vielfältigem Zubehör, zum Beispiel zur Adaption an verschiedenste industrielle Kameras, erhältlich. OEMs können mithilfe der Optikkomponenten eigene Machine-Vision-Systeme schneller und effizienter zur Marktreife führen. Die Objektive unterstützen vollautomatische Prozesse in Industrie-4.0-Fertigungslinien. Mit der Ergänzung der SWIR-Objektive sind jetzt sogar multispektrale und hyperspektrale Aufnahmen von 400 bis 1700 nm möglich.
Qioptiq, Halle 6, Stand 401
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