Mahr hat sein Portfolio in der Oberflächenmesstechnik um eine innovative Weißlichtinterferometer-Serie erweitert: Der Messtechnik-Spezialist bringt damit gleich drei neue Geräte auf den Markt, die Oberflächentopografien bis in den Sub-Nanometerbereich zuverlässig messen. Dank der neuartigen ICA-Technologie (Intelligent Correlation Algorithm) ermöglichen sie ein höchststabiles Signal bei einem extrem niedrigen Rauschmaß. Ergebnis: hochpräzise Topografiedaten bei einer sehr hohen vertikalen Auflösung.
ICA ermöglicht laut Hersteller eine sehr gute statistische Bestimmung der Höhenwerte, beste Datenqualität und ein minimales Rauschmaß von nur 80 Pikometern ermöglicht. Messdaten liefert die neue Technologie in wenigen Sekunden.
Die neue Weißlichtinterferometrie-Serie von Mahr umfasst:
- das manuelle WI 50 M als Allround-Einstiegslösung für anspruchsvolle Messaufgaben,
- das WI 50, ein hochpräzises Messgerät für Forschung und Qualitätsmanagement,
- das automatisierbare WI 100 als Profigerät mit erweiterter Z-Achse für besonders große Werkstücke.
„Darüber hinaus punkten die drei Geräte mit einem sehr großen Positioniervolumen für große Werkstücke und einer intuitiven Benutzersoftware, die unsere Kunden bereits von den anderen optischen Systemen kennen und schätzen“, sagt Mahr-Produktmanager Thorsten Höring. „Damit können Labore und Qualitätssicherungen feinste Rauheiten, Stufenhöhen oder Ebenheiten im Nanometerbereich eruieren – und das in wenigen Sekunden.“
Mahr GmbH
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