Schlitzbasierte Strahlprofilmessung MKS erweitert Nanoscan-Produktpalette - Quality Engineering

Schlitzbasierte Strahlprofilmessung

MKS erweitert Nanoscan-Produktpalette

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Bild: MKS Ophir
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MKS Instruments stellt mehrere Neuerungen für die schlitzbasierten Profilmessgeräte der Ophir-Nanoscan-Serie vor. So vergrößert sich der Messbereich der Ophir-Nanoscan-Modelle mit Silizium-Messkopf auf Wellenlängen bis 1100 nm. Laut Anbieter wird die Messung von durchstimmbaren Lasern damit für Anwender deutlich einfacher und günstiger. Mit dem neuen Nanoscan MIR ergänzt der Messtechnikspezialist sein Portfolio um ein schlitzbasiertes Nanoscan-Modell mit pyroelektrischem Messkopf für die Anwendung im mittleren Infrarotbereich. Das Profilmessgerät eignet sich für Wellenlängen von 900 nm bis 5 μm. Als Highlight bietet Ophir seinen Kunden die Möglichkeit, noch bis Ende des Jahres die passende Nanoscan-Software in der Professional-Version mit integrierter Automatisierungs-Schnittstelle ohne Aufschlag zur Nanoscan-Standard-Software herunterzuladen.

Die schlitzbasierten Strahlprofilmessgeräte der Nanoscan-Serie eignen sich insbesondere für die Messung kleiner Strahldurchmesser und werden häufig von Herstellern von Laserstrahlquellen unter anderem für die Medizintechnik eingesetzt.

“Mit unseren Neuerungen bei der Nanoscan-Familie bieten wir den Anwendern eine günstig Alternative zur Strahlvermessung im NIR- bis MIR-Bereich sowie generell beim automatisierten Messbetrieb von kleinen Strahldurchmessern bis zu sieben Mikrometern“, erklärt Christian Dini, Director Global Business Development Ophir. Die Ophir-Nanoscan-Messgeräte sind mit Silizium-, Germanium- und pyroelektrischen Messköpfen erhältlich und decken damit einen weiten Bereich an Wellenlängen und Laserleistungen ab. Die passende Software errechnet ISO-konform zahlreiche Strahlparameter, beinhaltet einen M2-Assistenten und ermöglicht die Messung der Laserleistung. ■

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