Das konfokale 3D-Laserscanning-Mikroskop VK-X von Keyence ermöglicht eine präzise und hochauflösende Oberflächenanalyse und macht dadurch Unterschiede sichtbar. Es vereint Funktionen der berührungslosen Rauheitsmesstechnik und der Topographieerfassung. Die hochauflösenden Bilder des Lasers in Kombination mit den Echtfarben der Farbkamera ermöglichen aussagefähige Analysen und Ursachenbeschreibungen. Die neue AI-Scan-Funktion vereinfacht die Arbeit des Anwenders, da dieser mit nur einem Klick Analysen starten und zusammenfassen kann. Die VK-X-Serie wurde entwickelt, um Unzulänglichkeiten in Bildgebung und Profilmessung zu beheben, indem eine hochauflösende Farbbildgebung sowie Profilmessungen im nm-Bereich realisiert wurden.
Der kurzwellige Laser scannt berührungslos Oberflächen und Schichtdicken, auch an steilen Flanken. Durch die Verwendung eines Photomultipliers als Laser-Empfangselement mit hochempfindlicher 16-Bit-Erfassung kann das Mikroskop Bilderfassungen und Messungen auf nahezu jeder Art von Material sowie Schichtdickenmessungen auf transparenten Folien und Beschichtungen durchführen.
Keyence Deutschland, Neu-Isenburg
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