Weißlicht-Interferometer erlauben die berührungslose Abbildung der Oberflächentopographie mit hoher Präzision. Die Vorzüge liegen in der sekundenschnellen Abbildung und der hohen Auflösung in z-Richtung von 0,1 nm. Große z-Scanbereiche sind ebenso möglich wie automatisierte Messungen und Auswertungen. Das kombinierte Weißlicht- und PhaseShift-Interferometer Wyko NT 3300 eignet sich für verschiedenste Arten von Proben und eine große Vielzahl von Anwendungen, wie z.B. für Aluminium, Stahl, Keramiken und Kunststoffe. Anwendungen liegen somit nicht nur in der Grundlagenforschung, sondern auch in der Prozesskontrolle und Fehleranalyse in den Bereichen Halbleiter, Elektronik, Optik, Sensoren und Beschichtungen.
A QE 431
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