Soft Imaging System präsentiert auf den diesjährigen nationalen und internationalen Messen eine universell einsetzbare SEM/FIB-Bildanalyse-Plattform für alle rasterelektronenmikroskopischen Anwendungen: Scandium. Mit Scandium können Bilder und Daten ohne Zeitverlust aufgenommen, übertragen, gespeichert und beliebig visualisiert und analysiert werden.
Darüber hinaus lassen sich Mikroskope fernsteuern, komplett automatisieren und in übergeordnete Vorgänge einbinden. Konsequent auf die gängigen Arbeitsabläufe im Bereich SEM zugeschnitten, ist Scandium einfach und intuitiv bedienbar. Auf diese Weise können SEM-Anwender die Vorzüge der Digitaltechnik voll ausschöpfen.
Scandium sorgt für den reibungslosen Datenaustausch mit der Software des SEM (Scanning Electron Microscope) und des FIB (Focused Ion Beam Microscope).
Eine Vielzahl von Daten anderer typischer SEM-Hard- und -Software-Komponenten, wie EDX-Geräte führender Hersteller, lässt sich direkt in Scandium laden. Scandium basiert auf der Bildanalyse-Plattform analySIS FIVE.
QE 538
Teilen:
