Schraubt man ein NanoView- AFM anstelle eines Standard- Mikroskopobjektives in den Objektivrevolver eines normalen Lichtmikroskops, erhält man ein in das optische System des Mikroskops integriertes AFM. Das Mikroskop-Linsensystem behält dabei seine volle Funktionsfähigkeit. Nachdem konventionell-optisch eine Vorauswahl der interessierenden Oberfläche mit der jeweiligen Vergrösserung getroffen worden ist, dreht man das Objektiv in den Strahlengang. Damit hat sich das Licht-„Mikro“-skop in ein „Nano“-View- AFM verwandelt. Angetrieben durch einen Piezomotor nähert sich der AFM- Cantilever vollautomatisch der Probenoberfläche. Die Topographie der Probe wird dann im Oszillationsmodus zerstörungsfrei abgetastet und entsprechend dargestellt. Dieses Prinzip bietet einen weiteren Vorteil: Es gibt (fast) keine Begrenzung der Probengrösse.
A QE 434
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