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Digitalkameras für anspruchsvolle Anwendungen

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Digitalkameras für anspruchsvolle Anwendungen

Digitalkameras für anspruchsvolle Anwendungen
Die Image Sensing Solutions Division von Sony Business Europe hat zwei neue monochrome Digitalkameras für schnelle, hochauflösende Machine-Vision-Anwendungen. Die Produkte bieten die doppelte Framerate früherer Versionen, besitzen einen externen Trigger zur klaren Erfassung sich schnell bewegender Objekte und eine langsame Verschlussgeschwindigkeit für die Aufnahme von Standbildern unter schlechten Beleuchtungsverhältnissen. Während die Version XCD-SX910 Bilder im SXGA-Format ausgibt, handelt es sich bei dem Typ XCD-X710 um eine XGA-Version. Beide mit C-Mount-Gewinde ausgerüsteten Kameras können sehr einfach in einem Mehrkamera-System synchronisiert werden. Die Kameras sind mit einem schnellen, plug-and-play-fähigen IEEE 1394 Interface ausgestattet, das eine Übertragungsrate bis zu 400 MBit/s zulässt.

Die Version XCD-SX910 enthält ein 1/2-Zoll-CCD in IT (Interline Transfer) Progressive Scan-Technik mit 1.450.000 Pixeln. Die Framerate kann auf Werte bis zu 15 fps eingestellt werden. Die Version XCD-X710 besitzt ein 1/3-Zoll IT Progressive Scan-CCD mit 800.000 Pixeln und erreicht Frameraten bis zu 30 fps. Der 10-Bit-Ausgang beider Kameras unterstützt bis zu 1.024 Graustufen und ergibt eine hohe Bildqualität. Verschiedene komfortable Features wie eine Partial-Scan-Funktion (16 x 16 Zonen) und die Auswahl unter verschiedenen Ausgabe-Modi (mit unterschiedlichen Frameraten und Bit-Tiefen) verleihen den Kameras ein Höchstmaß an Flexibilität. Durch die hohen Frameraten und die ausgezeichnete Auflösung der Kameras ist eine effektive Inspektion in schnellen Produktionslinien möglich, was zu mehr Durchsatz führt und die Produktivität erhöht.
Die neuen Sony Digitalkameras werden in qualitätskritischen Imaging-Applikationen wie z.B. anspruchsvollen Fabrikautomations-Systemen, bei der Halbleiter-Inspektion, in biomedizinischen Analysen sowie in Bildverarbeitungssystemen von der 3D-Positionierung über die Oberflächenanalyse bis zur Defektsortierung eingesetzt.
QE 535
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