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Durchdachtes Gesamtkonzept

Oberflächenmessung
Durchdachtes Gesamtkonzept

Durchdachtes Gesamtkonzept
„Dual Technology“, kurz DT, steht auf dem MicroSpy Topo von FRT für die Kombination eines Spinning-Disc Konfokalmikroskops mit einem Weisslicht-Interferometer. Damit lassen sich sowohl minimal als auch stärker strukturierte Proben berührungslos, zerstörungsfrei mit Mikro- und Nanometerauflösung vermessen. Konzipiert wurde das Gerät zur Messung von Rauheit, Kontur und 3D-Topographie. Dank seines Objektivrevolvers ist der MicroSpy Topo DT in der Lage, gleichzeitig bis zu sechs verschiedene Objektive aufzunehmen, die durch einfaches Drehen schnell gewechselt werden können. Die Positionierung der Proben erfolgt per motorisiertem Verfahrtisch und CCD-Kamera.

FRT Fries Research & Technology, Bergisch Gladbach www.frt-gmbh.com
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