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Inspektionsmikroskop für sehr große Proben

Allgemein
Inspektionsmikroskop für sehr große Proben

Zur Beobachtung von Proben mit einem Durchmesser von bis zu 15 cm und fast unbegrenzter Dicke wurde dieses Inspektionsmikroskop MX40 entwickelt. Es eignet sich besonders für OEM-Anwendungen. Das Mikroskop ist mit einer unendlichkorrigierten UIS-Optik ausgestattet und ermöglicht alle Kontrastverfahren. Selbst für sehr spezielle Anwendungen steht ein großes Sortiment an Objektiven zur Verfügung. Stativ und Arm lassen sich voneinander trennen, wodurch der gesamte Aufbau durch Einsetzen eines einfachen Distanzstücks an jede Objekthöhe angepasst werden kann. Alle wichtigen Kontrollvorrichtungen wie Fokustrieb, Helligkeitsregler und Tischtrieb befinden sich dicht beeinander nahe der optischen Achse. Dies gewährleistet eine leichte Bedienung.

A QE 517
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