Seit letztem Jahr ist das neue, leistungsfähige JEOL Compact-REM JCM-5700 Carryscope auch auf dem europäischen Markt verfügbar. Das transportable Rasterelektronenmikroskop (REM) kann direkt zur Qualitätssicherung an der Produktionslinie eingesetzt werden. Das REM ermöglicht eine Auflösung von bis zu 5 nm (bei 20 kV) und ist neben dem bewährten Sekundärelektronendetektor mit einem neuartigen Rückstreuelektronendetektor ausgestattet, der bereits bei geringen Spannungen eine hervorragende Bildqualität bietet. Der Detektor verfügt nicht nur über COMPO- (Zusammensetzung) und TOPO-Modus (Oberflächentopographie) sondern zusätzlich über den patentierten Shadow-Modus, der eine plastische Darstellung der Probe gewährleistet.
Die hohe Abbildungsqualität des Mikroskops bei sehr geringen Spannungen (einzigartige 15nm Auflösung bei 1 kV) ermöglicht die Darstellung von Oberflächenkontamination und organischen Verschmutzungen in bisher nicht gekannter Detailtreue. Ebenso können sehr empfindlichen Proben wie Polymere und organische Verbindungen zerstörungsfrei untersucht werden.
Der optional verfügbare Niedervakuummodus erlaubt die Untersuchung isolierender Proben ohne weitere Vorpräparation. Hiermit kann innerhalb weniger Minuten von einem Prüfteil ein hochauflösendes REM-Bild bzw. eine Elementanalyse angefertigt werden. Auch unerfahrene Nutzer erhalten bereits mit wenigen Mausclicks Abbildungen und Analysen zur Qualitätssicherung und Schadensanalyse. Durch eingebaute Software ist es möglich den Schritt in die dritte Dimension zu unternehmen: aus bis zu drei Einzelbildern kann eine dreidimensionale Rekonstruktion der beobachteten Probenstelle ermittelt und selbstverständlich auch in allen drei Dimensionen vermessen werden.
Das JEOL JCM-5700 Carryscope unterstützt den Anwender durch vorprogrammierte Rezepte, viele Automatikfunktionen und definierbare Schritte für reproduzierbare Analysen. Der integrierte Reportgenerator erleichtert das Erstellen standardisierter Analysenprotokolle. Der erfahrene Nutzer kann jede Funktion manuell steuern und so die leitungsstarke JEOL Elektronenoptik nach individuellen Bedürfnissen einsetzten. Das neue JEOL JCM-5700 Carryscope ist ein einzigartiges Werkzeug zur Messung immer kleiner werdender Toleranzen und Charakterisierung minimaler Defekte in der alltäglichen Produktionsumgebung.
JEOL (Germany), Eching
Halle 1 Stand 1002
QE 564
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