Für die materialwissenschaftliche Forschung stellt Carl Zeiss das Laser Scanning Mikroskop LSM 700/mat vor, mit dem Oberflächen hochgenau und dreidimensional abgebildet und vermessen werden können. Durch die Kombination von Fluoreszenz- und Reflexionsverfahren werden mikroskopische Untersuchungen an Halbleitern, Metall, Glas und Polymeren mit hoher Präzision und Aussagekraft möglich. Die dabei realisierte Detektion von Fluoreszenzsignalen an und in Materialien liefert zusätzliche Informationen. Das einfach zu bedienende System erlaubt genaue Messungen, wie zum Beispiel die Erfassung der 3D-Topografie und die Bestimmung feinster Rauheiten, ohne die Oberfläche zu schädigen. Die hohe Reproduzierbarkeit der Messwerte auch von relativ weichen Oberflächen, wie Polymeren, ist eine weitere Eigenschaft des Mikroskopsystems.
Das LSM 700 bildet mit den Stativen Axio Scope, Axio Imager und Axio Observer ein optimales System für Materialuntersuchungen. Speziell mit Axio Imager und Axio Observer sind zahlreiche Konfigurationen möglich. Damit können unterschiedlichste Kontrastverfahren von Hellfeld, Dunkelfeld über polarisationsoptischen und herkömmlichen differenziellen Interferenz- kontrast bis zu Polarisations- und Fluoreszenz- kontrast angewendet werden.
Carl Zeiss MicroImaging GmbH, Jena,
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