Das System der Fraunhofer IPT Aachen kann Einflüsse von Oberflächeneigenschaften der Messobjekte weitgehend eliminieren. Darüber hinaus bietet der Sensor eine konstante Messunsicherheit im Mikrometerbereich bei nahezu beliebigem Arbeitsabstand und Messbereich.
Das zum Patent angemeldete Verfahren beruht auf der Projektion von Laserlinien aus unterschiedlichen Winkeln, die mittels Kamera und nachgeschalteter Mehrbildauswertung ausgewertet werden. So werden zuverlässig Profilschnitte auch an glänzenden Messobjekten sicher erfasst. Das als Demonstrator gezeigte Verfahren beeindruckt bereits durch seine technischen Daten. Der Sensor erreicht eine axiale Auflösung von 0,25 Mikrometer. Wie für den Arbeitsabstand (50 bis 250 mm) gilt auch für den Messbereich (nur durch eingesetzte Mechanik begrenzt) eine flexible Gestaltung, so dass eine Abstimmung des Sensors auf die spezielle Anforderung möglich ist.
Halle 3, 3407
A QE 641
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