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Metrologie-Software für Mikroskopie

3D-Charakterisierung, Oberflächenbeschaffenheit und -geometrie
Metrologie-Software für Mikroskopie

Metrologie-Software für Mikroskopie
Leica Microsystems und Digital Surf haben den Abschluss einer Vereinbarung bekannt gegeben. Danach wird die Leica Map Oberflächendarstellungs- und Metrologie-Software, die auf Digital Surfs Mountains-Technologie basiert, mit der Leica Application Suite (LAS) in Industriemikroskopen von Leica Microsystems verwendet. Mit der neuen Leica Map Software lassen sich Merkmale gemessener Oberflächen sichtbar machen und quantifizieren, Oberflächenbeschaffenheiten und -geometrien charakterisieren sowie visuelle, nachverfolgbare Berichte darüber erstellen.

LAS Montage erwirbt eine Serie von Bild-Ebenen in einem festgelegten Abstand. Aus diesem Bilderstapel wird mit Leica Map eine Tiefenkarte und ein Extended-Fokus-Bild abgeleitet und analysiert. Es lassen sich Abstände, Winkel und Stufenhöhen messen.
Leica Microsystems, Wetzlar Fon +49 6441 29–0 www.leica-microsystems.com
Digital Surf, Besançon (F) Fon +33 3 81 50 48 00 www.digitalsurf.com
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