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Modul Topographie für Oberflächendarstellung

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Modul Topographie für Oberflächendarstellung

Modul Topographie für Oberflächendarstellung
Carl Zeiss hat das Topographie-Modul seiner Mikroskopie-Software AxioVision um einige neue Funktionen ergänzt. Sie verbessern die mikroskopische Rauheitsmessung und die Höhenmessung mit Stereomikroskopen. Damit können in der Materialmikroskopie Oberflächen detaillierter vermessen und so dargestellt werden, dass sie der Anwender scheinbar anfassen und fühlen kann. Mit der Funktionserweiterung des Moduls lässt sich die Grenzwellenlänge (Cut-off wavelength) für die Gauss-Filterung der berechneten Höhenkarte angeben. Zudem werden nun die Rauheitswerte aus ungefilterten Primärprofilen, hochpassgefilterten Rauheits- und tiefpassgefilterten Welligkeitsprofilen ermittelt. Der Anwender kann jetzt auch eine beliebige Anzahl an Profillinien in beliebiger Richtung in das ausgewertete Bild einzeichnen. Neben der Rauheitsmessung wurde auch die Höhenmessung optimiert. Dazu lassen sich an Stereo-Mikroskopen nun Höhenbilder aus Stereo-Bildpaaren eines Objekts berechnen. Voraussetzung dafür ist ein zweifacher Fototubus S für den Anschluss zweier Mikroskopkameras. Durch diese neuen Funktionen kann der Anwender Rauheits- und Welligkeitsparameter einfacher ermitteln sowie mehrere Profillinien komfortabler miteinander vergleichen.

Carl Zeiss MicroImaging, Jena
QE 543
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