Institutionen in Forschung, Entwicklung und Qualitätssicherung wird ab sofort die Möglichkeit geboten, ultrapräzise Oberflächenstrukturen in der Kunststofftechnik, der Metallurgie oder in der Elektronik (z. B. von Halbleitern und Masken) auf eine unerreicht präzise und dabei völlig unkomplizierte Art bis zu Auflösungen von 150 Nanometer absolut zuverlässig und präzise zu vermessen, Fehlerursachen zu erkennen und Schadensfälle zweifelsfrei zu dokumentieren.
Modernste Nano-Analytik, die auf Vakuum und Sputtern verzichten kann. ERGONOM von Olbrich beginnt dort, wo auch die beste Lichtmikroskopie endet. Diese Technologie beginnt dort, wo die klassische Lichtmikroskopie an ihre physikalischen Grenzen stößt. Ein Novum in der Mikroskopie ist die variabel regelbare Tiefenschärfe, die räumliche 3D-Darstellung, der variable Farbkontrast im Einhergang mit brillanter Konturenschärfe. Neben diesen neuen Qualitäten bietet die Ergonom-Stereomikroskopie ein weiteres Novum, nämlich einen Parallaxenausgleich für die absolut verzeichnungsfreie Analyse und Dokumentierung.
Weil die Ergonom-Mikroskopie gänzlich ohne computergestützte Bildverarbeitung arbeitet, werden Objekte bis an die Grenzen der Auflösung von nicht nur in ihren Eigenfarben sondern auch durch die senkrechte Betrachtungsmöglichkeit ohne Parallaxenfehler in den realen Proportionen und Dimensionen höchst präzise vermessen.
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