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Oberflächencharakterisierung

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Oberflächencharakterisierung

Das Oberflächenmesssystem µSurf ist durch sein konfokales Messprinzip in der Lage, technische Oberflächen hochgenau zu charakterisieren.

Hierbei stellen insbesondere steile Flanken, wie sie bei der technischen Bearbeitung von Metalloberflächen vorkommen, kein Hindernis dar. Durch sein flächenhaftes Aufnahmeverfahren und die Möglichkeit, verschiedene Vergrößerungen zu wählen, eignet sich das Messsystem sowohl für schnelle Messungen in der Qualitätssicherung als auch für hochgenaue Messungen bis in den sub-µm-Bereich, im Bereich Forschung und Entwicklung. Die drei dimensionalen Messdaten können hierbei für verschiedenste Auswertungen, Präsentationen und Simulationen genutzt werden. Ein modernes, einfach zu bedienendes Softwarepaket runden ein hochgenaues und flexibles System für anspruchsvolles Messen von technischen Oberflächen ab.
A QE 415
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