Die bewährten offenen Linearmesssysteme der Baureihe LIE von Numerik Jena sind jetzt auch mit integrierten optischen Endlagensensoren erhältlich. Ohne Veränderung der sehr kleinen Messkopfabmessungen und ohne zusätzliche Verkabelung können die seitlich vom Maßband zu positionierenden Marken detektiert werden. Herzstück der Messsysteme ist das miniaturisierte und multifunktionale EPIFLEX-Messmodul. Sämtliche Funktionen eines optischen Abtastkopfes, wie Beleuchtung, optische Abbildung, Abtastung der Maßverkörperungsstrukturen, Signalwandlung und -verstärkung, sind in einem Hybrid-Bauelement integriert. Das neue Auflicht-Abtastverfahren in Verbindung mit neuentwickelten Bauelementen und modernsten Herstelltechnologien aus der Mikroelektronik erlauben eine extrem kleine und besonders flache Bauweise des Epiflex-Messmoduls sowie grobe Anbautoleranzen.
A QE 623
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