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Perfekte Oberflächen mit Hilfe von SIRIS

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Perfekte Oberflächen mit Hilfe von SIRIS

Mit dem modular aufgebauten Oberflächeninspektionssystem SIRIS (Senor Independent Realtime Inspection System) hat SIS ein vielseitiges Online – Messsystem zur 100%-Qualitätskontrolle entwickelt.

Sensorbreiten:
  • 6 verschiedene Scannerbreiten: 40, 300, 750, 1250, 1600, 2000 mm, kaskadierbar
  • CCD Kameras: 2048, 4096, 6144 und 8172 Pixel, kaskadierbar
Sensortechnik:
  • Telezentrischer Laserscanner
  • CCD Kameras, line scan, matrix, TDI, color
  • Hybridsysteme mit Kameras und Lasertechnik
  • Lichtleitstab – und Parabolempfänger in Reflexion/Transmission/Hellfeld/Dunkelfeld
Auflösung:
  • Bei Kratzern bis zu 2 µm
  • Fehlerdetektion:
  • 8 Empfangskanäle mit jeweils frei programmierbaren Schwellwerten
  • Frei programmierbare digitale Filter (1D/2D), lookup table
  • Streifen – und Periodenfehlerdetektor
Klassifikation:
Robuster Würfelklassifikator mit über 100 Merkmalen
SIS Surface Inspection Systems, München
QE 522
www. sis-inspection.de
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