Das neue konfokale Laser-Scanning-Mikroskop LSM 800 von Carl Zeiss Microscopy (AMB, Halle, Stand F70) ist für Materialanwendungen und Analysen in Forschung und Industrie konzipiert. Es ermöglicht präzise dreidimensionale Bildaufnahmen von Strukturen und Oberflächen im Mikrometer-Maßstab. Die Kombination von konfokaler Fluoreszenzmikroskopie mit weiteren Kontrastmethoden in einem Instrument sorgt für hochpräzise Untersuchungen von Nanomaterialien, Metallen, Polymeren und Halbleitern mit einem Maximum an Information. Das System bietet zudem die exakte Erfassung von 3-D-Topographie und Untersuchungen von Strukturen im Nanometer-Bereich ohne Oberflächenkontakt.
Die Kombination des LSM 800 mit Axio Imager, einer inversen Mikroskopieplattform für die Materialforschung, ermöglicht eine Vielzahl an Hardwarekonfigurationen, beispielsweise bei Objektiven, Mikroskoptischen, und Beleuchtungstechniken. Durch die Verfügbarkeit zahlreicher lichtmikroskopischer Verfahren wie Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisationskontrast und den Zeiss exklusiven zirkulären differentiellen Interferenzkontrast (C-DIC) in einem Stativ kommen Benutzer schneller zu Ergebnissen. ■
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