Vor allem in sicherheitsrelevanten Märkten wie Automotive und Luft-/ Raumfahrt ist die Abschätzung der Lebensdauer von Bauteilen unumgänglich. microtec hilft Ihnen bei folgenden Problemstellungen:
- Abschätzung der Lebensdauer von Komponenten aufgrund statistischer Analyse von Testergebnissen (Weibull)
- MTBF-Berechnung für Baugruppen und Systeme nach den relevanten Standards
- Lagerung von Bauteilen, Veränderung von Funktion und Verarbeitbarkeit nach Lagerung
microtec führt Lebensdauertests und Burn-In durch und analysiert die Testergebnisse mit Hilfe spezieller Software (WEIBULL) auf Frühausfälle, Zufalls- oder Verschleißausfälle unter Betriebsbedingungen. An Baugruppen und Systemen führt microtec Berechnungen zu MTBF und FIT-Raten durch, um die Gesamtzuverlässigkeit zu bestimmen. Dies erfolgt unter verschiedenen elektrischen Belastungen und klimatischen Vorgaben. Darüber hinaus führt microtec Zuverlässigkeits-Tests und Qualifikationen nach Standards wie AEC-Q, ESCC, TELCORDIA, MIL, IEC, JEDEC durch. microtec unterstützt Sie außerdem aufgrund langjähriger Erfahrung auch bei der Auslegung von kundenspezifischen Tests (Design of Reliability Testing). Das neutrale und zertifizierte Testhaus führt Alterungsstudien zu elektronischen Bauteilen durch und gibt Empfehlungen zur Langzeit-Lagerung und Verarbeitbarkeit gelagerter Bauteile. microtec verfügt über langjährige Reliability-Erfahrung zu verschiedenen Bauteiltypen. Neben Halbleitern und anderen aktiven Bauelementen umfasst die Bandbreite passive Komponenten und optoelektronische Bauteile wie LEDs, Laserdioden, Imagesensoren und komplette Kamerasysteme.
microtec, Stuttgart
QE 612
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